對晶體硅光伏組件非正常衰減和失效做分析。非正常衰減和失效現象的原因較多,涉及的責任方主要有組件制造方、運輸方、安裝方、運維方、電站設計方等等。只有分清責任方,才有利于解決非正常衰減和失效的問題,延長組件的使用壽命,為投資者帶來更多的效益。
2.晶體硅光伏組件非正常衰減和失效的原因:
2.1組件的PID現象:
這是近幾年討論較多的話題,筆者認為,如果光伏電站的組件發生了PID現象,其責任首先在電站設計方。
若設計方要求組件制造方提供抗PID的組件,而在電站實際運行中還是產生了PID現象,則組件制造方應承擔相應的責任。
我們知道,晶體硅光伏組件電位誘發衰減效應簡稱PID(Potential Induced Degradation),在負高偏壓下使用任何工藝生產的P型電池常規組件和在正高偏壓下使用任何工藝生產的N型電池常規組件都存在發生PID現象的極大風險,那么安裝在現場的組件可能產生PID現象的必要條件是什么呢?在實際的應用條件下,上午太陽初升后的一段時間內,往往是PID現象相對強烈的時段,原因是組件在經歷了一個不發電的夜晚后,其表面會有凝露現象發生,會造成光伏系統在早晨太陽初升后的一段時間內,其表面較為潮濕的情況下,承受前面提及的系統偏置電壓。
組件發生PID現象必須滿足以下幾個條件:
1)P型硅電池組件正極接地,或N型硅電池組件負極接地。
2)組件表面有一層水膜(一般清晨會有露水)。
3)有能使組件產生高電壓的陽光;
4)組件封裝材料用的是常規鈉鈣玻璃和常規EVA,電池是常規工藝制成。
組件在滿足以上四條時就有產生PID現象的可能。也就是說,PID現象的產生是玻璃表面與組件內部電路的高壓,導致玻璃中鈉離子遷移到電池,破壞PN結的結果,與組件邊緣和背板滲水等并無直接關系。2、3條是自然現象,無法避免,1、4條則可以人為控制。
圖(1) PID示意圖
組件產生PID現象后,經EL測試,一般可見電池片衰減發黑的現象首先在靠近鋁邊框處發生,因為這些地方的電壓較高。另外,與逆變器輸入端相鄰的組件電路通常承受著最大系統電壓,所以這些位置的組件也最容易產生PID現象。
設計電站的人員若了解了電站內的組件有可能滿足以上幾個條件時,就應該采取相應措施,以防止組件產生PID現象。可采取的措施有:從系統上而言,可以采用串聯組件的負極接地或是在晚間對可能產生PID現象的組件和大地之間施加正電壓(對P型硅的組件而言)。另一個可能的情況是,隨著微逆變器的使用,系統電壓降低,產生的PID效應是否可以忽略不計。以上的三個方案都會帶來額外的設備成本和效率的下降。從組件和電池而言,電池端采用不同折射率或雙層減反射鈍化膜和組件端使用高電阻率的膠膜都可有效減緩PID 現象的產生。
雙玻組件無邊框,組件本身無需接地,使雙玻組件在有晨露等濕氣的情況下,由于與支架相連的卡簧或掛鉤面積較小,連通接地支架的阻抗較常規組件大的多,所以其產生PID現象的可能性要比常規組件小的多。
作者:夏俊杰 張蠡 王棟 邵愛軍 溫建軍 來源:海潤光伏科技股份有限公司
責任編輯:dongyiqiang