采用創(chuàng)新型電致發(fā)光技術(shù)，增加太陽能電池生產(chǎn)的 A 級品產(chǎn)出

　　太陽能發(fā)電網(wǎng)訊：如今，光伏行業(yè)的主要挑戰(zhàn)是不斷地優(yōu)化太陽能電池的效率，同時降低其制造成本。ISRA SOLAR VISION 是 ISRA VISION AG 位于德國達姆施塔特的一個業(yè)務(wù)部門，它提供多種一流高效的檢測系統(tǒng)，以幫助光伏制造商們應(yīng)對這些挑戰(zhàn)。通過新一代電致發(fā)光 (EL) 檢測系統(tǒng)，這家領(lǐng)先的最佳電池檢測系統(tǒng)供應(yīng)商在太陽能電池高精度檢測方面取得了又一個突破：放眼當今市場，SOLARSCAN 多光譜雙電致發(fā)光系統(tǒng)提供最精確的缺陷分類，實現(xiàn)最低的誤檢測率，由此得到最低的誤降級率。檢測速度是之前的三倍，成為業(yè)界最快的電致發(fā)光檢測系統(tǒng)。通過這種方式，最新的檢測可檢測出人眼不可見的缺陷，增加 3% 的高質(zhì)量產(chǎn)出并顯著降低成本，同時減少太陽能電池生產(chǎn)中的材料損耗。智能 ISRA SOLAR VISION 檢測解決方案是全球光伏行業(yè)的明智選擇。

　　創(chuàng)新型高速在線 SOLARSCAN YIELDMASTER 電致發(fā)光檢測系統(tǒng)具有業(yè)界最高的可重復(fù)性和檢測率，以一流的檢測性能為光伏制造商們帶來更大附加值。新一代電致發(fā)光檢測能夠?qū)α慨a(chǎn)期間的太陽能電池組件進行特征化表示。此外，它使用新型多光譜檢測方法對太陽能電池進行特征化表示，從而可靠地區(qū)分出材料缺陷(位錯、材料變化、硅中含有雜質(zhì)等)和工藝缺陷(裂紋、細柵線斷開、低效區(qū)域、刮痕等)。這使得電池制造商們可改進基本材料的質(zhì)量控制，高質(zhì)量產(chǎn)出顯著增加。

　　具有最快檢測速度，讓缺陷無所遁形

　　與傳統(tǒng)電致發(fā)光系統(tǒng)相比，新型電致發(fā)光檢測的最大改進在于將最高質(zhì)量產(chǎn)出增加了 3%，通過最高測量精度將誤降級率降低了 6 倍，以及通過最快圖像處理將檢測速度提高了三倍。新一代電致發(fā)光系統(tǒng)能夠檢測出大量屬性并將它們加以分類，這些屬性包括但不限于太陽能電池上的可視和不可視裂紋、破損、旁路電流、細柵線斷開和漏電、串聯(lián)電阻、黑暗和不活動區(qū)域、黑邊、燒結(jié)缺陷、位錯、晶粒邊界、熱斑、刮痕、工件破損、污染和材料缺陷。

　　太陽能電池制造商們從該電致發(fā)光檢測技術(shù)優(yōu)化的參數(shù)中受益良多。相對于需要較長圖像捕獲和分析周期的傳統(tǒng)電致發(fā)光技術(shù)，新型 SOLARSCAN-YIELDMASTER 電致發(fā)光系統(tǒng)的成像時間可縮短 8 倍。系統(tǒng)大大優(yōu)化了圖像獲取和計算速度，檢測速度因此提高了兩倍， 每小時可檢測多達 3,600 片太陽能電池。

　　最低誤檢測率，有助于減少材料損耗

　　多光譜電致發(fā)光檢測的另一個突破是誤檢測率降低超過 6 倍，甚至低于 0.5%，無缺陷電池的產(chǎn)出量顯著增加。由于檢測率不準確，傳統(tǒng)電致發(fā)光系統(tǒng)在太陽能生產(chǎn)過程中浪費了過多材料。SOLARSCAN 電致發(fā)光系統(tǒng)可區(qū)分出電子缺陷和非關(guān)鍵光學缺陷，大大減少了 A 級太陽能電池的損失量。通過這種方法，新型檢測系統(tǒng)幫助太陽能制造商們降低制造成本、改善產(chǎn)品質(zhì)量，從而提高了生產(chǎn)效率。

　　模組化設(shè)計，易于集成到生產(chǎn)環(huán)境

　　該新型電致發(fā)光系統(tǒng)采用模組化結(jié)構(gòu)，可整合到新生產(chǎn)線或現(xiàn)有生產(chǎn)線中，并且滿足太陽能電池的不同檢測要求。SOLARSCAN 系統(tǒng)具有業(yè)界最快的檢測速度、最準確的缺陷分類和最低的誤降級率，電池制造商們可輕松檢測出人眼不可見的隱藏缺陷。

　　采用 ISRA SOLAR VISION 技術(shù)的自動電致發(fā)光檢測系統(tǒng)將 A 級電池數(shù)量增加 3%，同時將檢測速度提高兩倍并將材料損耗減少 6 倍，成本顯著降低、產(chǎn)品質(zhì)量提高、生產(chǎn)損耗減少，最終實現(xiàn)了更高的客戶滿意度。

YIELDMASTER 電致發(fā)光 先進的新型質(zhì)量控制工具

SOLARSCAN 帶來的高效光學檢測