N型組件的全面“低衰減”——基于（北德）可靠性測試的表現(xiàn)
老化衰減, 光致衰減(LID), 熱輔助光致衰減 (LeTID), 以及電勢誘導衰減(PID)是光伏組件的四種衰減機理，它們都會影響單晶硅電池結(jié)構(gòu)的組件（例如PERC，PERT）發(fā)電性能。其中LID和LeTID是業(yè)內(nèi)的關(guān)注重點，LID的形成主要是由于太陽能電池收到光照后產(chǎn)生的硼氧復合體會降低少數(shù)載流子的壽命，導致功率下降。而LeTID則是在高溫條件下，輔助光照導致電池效率降低的現(xiàn)象。
P型PERC組件因其⼯藝性質(zhì)極易受到LID和LeTID的威脅，而N型電池以摻雜磷原子的N型硅片作為襯底，硼氧復合體少，LID和LeTID對其的影響微乎其微，這也是業(yè)界需要轉(zhuǎn)向N型技術(shù)的重要原因之⼀。
為了進一步研究N型TOPCon的衰減模式，TÜV北德對組件進⾏了可靠性測試。
測試方法
為了比較N型組件和P型組件的可靠性，測試序列如下
a) 評估老化衰減的測試：
冷熱循環(huán)TC 200（IEC 61215, - 40°C 至 85°C，200次循環(huán)）/400（2倍加嚴）/600（3倍加嚴）
濕熱DH 1000（IEC 61215，溫度85°C，相對濕度85%， 1000小時）/2000（2倍加嚴）/3000（3倍加嚴）
機械性能序列（靜載 SML+動載DML+冷熱循環(huán)TC50+濕凍循環(huán)HF10）
加嚴紫外老化UV90（IEC 61215, IEC TR 63279）
b) 評估光致衰減的測試 (LID/LeTID)：LID 60kWh（IEC 61215 要求為5kWh穩(wěn)定，IEC 63202-1要求為針對LID評估至少20kWh以上）、LeTID 192h
c) 評估電勢誘導衰減的測試（PID）：PID 96（IEC 61215）/192（2倍加嚴）/288 （3倍加嚴）
測試結(jié)果與分析：
根據(jù)測試結(jié)果，N型組件在可靠性測試中表現(xiàn)優(yōu)異，其衰減率均遠遠低于IEC的5%標準，并且衰減率在同一測試條件下均優(yōu)于P型組件。尤其是在TC、PID和DH基礎(chǔ)和加嚴測試序列中的表現(xiàn)優(yōu)異。
在60KWh/m2的光照條件下， N型TOPCon組件的LID衰減僅為0.26%，而PERC組件在相同條件下的衰減率為1.92%。LeTID測試中，N型TOPCon組件的功率衰減僅為0.09%，遠遠小于PERC組件1.17%。
UV測試中，N型TOPCon組件和PERC組件在經(jīng)受了90KWh/m2的紫外線照射后，其功率衰減分別為0.60%和2.21%，外觀均無變化。
以上測試結(jié)果充分證明了N型組件的可靠性強，這得益于品質(zhì)優(yōu)異的N型硅⽚和帶來更高效率的TOPCon電池技術(shù)，削弱了由B-O復合缺陷引起的LID，帶來了更⻓的少⼦壽命。
此外，N型組件通過采⽤優(yōu)異的邊框、玻璃、POE封裝材料，具有出⾊的抗⽼化和抗PID性能，進⼀步提⾼了組件機械性能和抗水汽滲透能力。
測試結(jié)論：
TÜV 北德測試結(jié)果表明， N型TOPCon組件即使在嚴苛的環(huán)境下，依然保持強大的可靠性和穩(wěn)定性。這使得N型組件成為更可靠和持久的太陽能發(fā)電解決方案，選擇N型成為目前電站選型的不二之選。
測試方法
為了比較N型組件和P型組件的可靠性，測試序列如下
a) 評估老化衰減的測試：
冷熱循環(huán)TC 200（IEC 61215, - 40°C 至 85°C，200次循環(huán)）/400（2倍加嚴）/600（3倍加嚴）
濕熱DH 1000（IEC 61215，溫度85°C，相對濕度85%， 1000小時）/2000（2倍加嚴）/3000（3倍加嚴）
機械性能序列（靜載 SML+動載DML+冷熱循環(huán)TC50+濕凍循環(huán)HF10）
加嚴紫外老化UV90（IEC 61215, IEC TR 63279）
b) 評估光致衰減的測試 (LID/LeTID)：LID 60kWh（IEC 61215 要求為5kWh穩(wěn)定，IEC 63202-1要求為針對LID評估至少20kWh以上）、LeTID 192h
c) 評估電勢誘導衰減的測試（PID）：PID 96（IEC 61215）/192（2倍加嚴）/288 （3倍加嚴）
測試結(jié)果與分析：
根據(jù)測試結(jié)果，N型組件在可靠性測試中表現(xiàn)優(yōu)異，其衰減率均遠遠低于IEC的5%標準，并且衰減率在同一測試條件下均優(yōu)于P型組件。尤其是在TC、PID和DH基礎(chǔ)和加嚴測試序列中的表現(xiàn)優(yōu)異。
在60KWh/m2的光照條件下， N型TOPCon組件的LID衰減僅為0.26%，而PERC組件在相同條件下的衰減率為1.92%。LeTID測試中，N型TOPCon組件的功率衰減僅為0.09%，遠遠小于PERC組件1.17%。
UV測試中，N型TOPCon組件和PERC組件在經(jīng)受了90KWh/m2的紫外線照射后，其功率衰減分別為0.60%和2.21%，外觀均無變化。
以上測試結(jié)果充分證明了N型組件的可靠性強，這得益于品質(zhì)優(yōu)異的N型硅⽚和帶來更高效率的TOPCon電池技術(shù)，削弱了由B-O復合缺陷引起的LID，帶來了更⻓的少⼦壽命。
此外，N型組件通過采⽤優(yōu)異的邊框、玻璃、POE封裝材料，具有出⾊的抗⽼化和抗PID性能，進⼀步提⾼了組件機械性能和抗水汽滲透能力。
測試結(jié)論：
TÜV 北德測試結(jié)果表明， N型TOPCon組件即使在嚴苛的環(huán)境下，依然保持強大的可靠性和穩(wěn)定性。這使得N型組件成為更可靠和持久的太陽能發(fā)電解決方案，選擇N型成為目前電站選型的不二之選。
作者： 來源：太陽能發(fā)電網(wǎng) 責任編輯：jianping
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